Dieses Gerät ist beschädigungsfrei und kann sowohl die Phasenwechseltemperatur als auch den thermischen Ausdehnungskoeffizienten eines Materials erkennen. Erfolgreiche Forschung und Entwicklung von OPA
Die technologische Lücke zur beschädigungsfreien Erkennung der Phasenwechseltemperatur und des thermischen Ausdehnungskoeffizienten von Nano-Film-Materialien kann bis zu 5nm Dünnfilm-Materialien messen.
Dieses Gerät verfügt über mehrere Erfindungen und verfügt über unabhängige geistige Eigentumsrechte.