Dieser Artikel beschreibt die Analysemethode zur Bestimmung einer Vielzahl von Verunreinigungselementen in hochreinen Quarzsandproben mit dem Perkin Elmer Avio 200 Inductive Coupled Plasma Emission Spectrometer (ICP-OES) und hat diese Methode systematisch validiert. Die Ergebnisse zeigen, dass die Methode eine ausgezeichnete Genauigkeit und gute Präzision hat, und die Ergebnisse von beiden Proben erfüllen die Grenzwerte für 13 Verunreinigungselemente in der Norm GB / T 32649-2016 für hochreinen Quarzsand für Photovoltaik, wodurch die genaue Bestimmung von Spurenelementen in hochreinen Quarzsandproben erreicht wurde.