
Kürzlich haben wir unsere neuesten Produkte vorgestellt.kSA XRF Online-Röntgenfluorescenzfilm-DickenmessgerätBei zu dünnen Metallfolien und dielektrischen Folien erscheint die optische Methode zur Messung ihrer Dicke nicht sehr zuverlässig.kSA XRF Online-Röntgenfluorescenzfilm-DickenmessgerätUm dieses Problem vor allem zu lösen, kann es online die Filmdicke auf vielen verschiedenen Materialsubstraten messen, wie z. B. Glas und Solarzellenkomponenten.
1.Ausgestattet mit einem geschützten, maßgeschneiderten Gehäuse für Röntgenquellen und Detektoren.
2.Das Gerät verbindet die Übertragungsleitungen, um die Installation der Geräte und den Zugriff der Anwender auf das System zu erleichtern.
3.Wenn die Röntgenquelle verwendet wird, blinkt eine Warnlampe.
4.Optoelektronischer Detektor an der vorderen/hinteren Kante mit Panel zum automatischen Start und Stoppen des Geräts.
5.Die Schranksteuerung bietet Datenverarbeitung und -speicherung.
6.Ausgestattet mit einem kleinen Leuchtturm zur Anzeige der Prüfsituation.
1.Bei einigen ultradünnen dielektrischen Filmen ist es schwierig, ihre Dicke mit optischen Methoden zu messen, wie z. B. Filme mit einer Dicke unter 100 nm; In diesem Fall kann kSA XRF gut gemessen werden.2.Die Metallschichtdicke kann auf mehreren Substraten gemessen werden.3.Echtzeit-Datenerfassung, Erkennung von Filmdickenfehlern und Online-Feedback.4.Die Softwarefunktionen können angepasst werden und können vom Benutzer auf spezifische Anforderungen angepasst werden.5.Die Qualitätskontrolle kann während der Prüfung überprüft werden, um sicherzustellen, dass die Beschichtungsdicke im Toleranzbereich liegt.6.Fabrikintegration: ermöglicht es den Anwendern, Geräte in bestehende Systeme zu integrieren (z. B. Fabrikalarme, SPS, E-Mail-Alarme usw.).7.Die Bedienung ist einfach und es sind kaum zusätzliche Einstellungen erforderlich, nur dass der Bediener die Geräte regelmäßig kalibriert.
1.Das System besteht aus einem Röntgenrohr mit einem Hochdruckgenerator und einem Röntgendetektorsystem.2.Das Röntgen-Erkennungssystem umfasst Festkörper, Verstärker, Pulshöhenanalysatoren und Mehrkanalanalyser.3.Nach der Spektrometernergiekalibrierung erkennt das System automatisch Röntgenspektrumspitzen und sammelt die Spitzenintensität zur weiteren Verarbeitung.4.Mit diesem Werkzeug können die entsprechenden Atomtypen entsprechend der Filmrezeptur und den Messanforderungen des Kunden gemessen werden.
1.Messung, Analyse und Speicherung von Daten mit der proprietären k-Space-Software.2.Kommunikation mit bestehenden Qualitätskontrollsystemen möglich.3.Einschalten und Beenden der Datenerfassung mit dem Auslöser des optischen Detektors.4.Speziell für die typischen Transportgeschwindigkeiten von Glas und Solarzellen konzipiert.5.SelbstMobilisierung, die Kommunikation mit der Fabrikautomatisierung ermöglicht.6.Alarmsignale können einfach anpassbar konfiguriert werden.7.Ein einzelner Prüfkopf kann überall auf der Panelbreite platziert werden und kann optional mit mehreren Prüfkopfen verwendet werden.8.Der Dickenmessbereich beträgt 0 bis 500 nm ± 1 nm und die Empfindlichkeit und die Messunsicherheit hängen vom gemessenen Element ab.

