Hitachi XRF Beschichtungsdickenmesser FT230

Der FT230 Desktop-XRF-Analyzer wurde entwickelt, um die Zeit für die Messung erheblich zu reduzieren. Als Hitachi-Ingenieure sich bewusst waren, dass die Einstellung der Probe und die Auswahl der Messrezepte oft viel Zeit aufwendig sind, haben sie einen bahnbrechenden Analyzer vorgestellt, der sich effektiv selbst "einstellen" kann, so dass während des Prozesses mehr Teile analysiert werden können.

Automatisierung und innovative Software sind die Merkmale des FT230-Analyzers. Intelligente Erkennungsmodule wie Find My Part ™ (Suche nach meiner Probe) bedeutet, dass der Bediener einfach die Probe lädt, die Teile bestätigt und der FT230 den Rest erledigt. Es findet den richtigen Messort an Ihrem Bauteil - auch auf großen Substraten - wählt das richtige Analyseprogramm aus und sendet die Ergebnisse an Ihr Qualitätssystem. Reduzierte Zeit und menschliche Fehler ermöglichen es Ihnen, mehr Analysen in kürzerer Zeit durchzuführen und 100% Inspektionen in einer geschäftigen Produktionsumgebung realistischer zu machen.