In der Elektronikherstellung und der allgemeinen Metallverarbeitung entscheidet alles die Präzision. Ob es darum geht, die Integrität der Leiterplatte zu gewährleisten oder die Gleichmäßigkeit der Schutzbeschichtung zu überprüfen, die genaue Messung der Beschichtungsdicke und -zusammensetzung ist von entscheidender Bedeutung. Der Kern moderner XRF-Geräte ist der Siliziumdrift-Detektor (SDD).

Wenn Sie eine chemisch vernickelte Beschichtung (EN) oder eine komplexe mehrschichtige Metalloberflächenbehandlung betreiben, ist eine Investition in einen XRF-Analyzer mit einer leistungsstarken SDD eine unverzichtbare Wahl.

In der Regel werden die mit einem XRF-Analyzer ausgestatteten Detektoren in zwei Arten unterteilt: Verhältniszähler oder Halbleiterdetektoren. Unter den Halbleiterdetektoren gilt Siliziumdriftdetektor (SDD) als eine leistungsstarkere Wahl.

Der Siliziumdrift-Detektor ist ein Festkörper-Röntgendetektor, der seine Energie messen kann, indem er die ionisierenden Effekte des Röntgenphotons in Siliziumkristallen erkennt. Die SDD kann mehrere Elemente gleichzeitig erkennen, was nicht nur die Anzahl der erforderlichen Scans reduziert, sondern auch die gesamte Messzeit deutlich verkürzt.

Diese Vorteile machen den SDD zur idealen Wahl für industrielle Anwendungen mit hohen Geschwindigkeits-, Genauigkeits- und Zuverlässigkeitsanforderungen, insbesondere bei der Schichtdickenmessung und der Elementanalyse.

Chemische Nickelbeschichtung ist aufgrund ihrer Korrosionsbeständigkeit, hoher Härte und gleichmäßiger Ablagerung weit verbreitet in den Bereichen Elektronik, Automobil, Luftfahrt und allgemeine Metallverarbeitung.

Die Mikrozonen-XRF-Technologie hat sich zu einem entscheidenden Instrument für die Schichtdickenanalyse bei der gesamten Prozessqualitätskontrolle chemischer Nickelung entwickelt. Wenn Legierungen mit unterschiedlichen Nickel-Phosphor-Verhältnissen hergestellt werden müssen, kann die Technologie die Beschichtungsablagerung genau messen. Da die physikalisch-chemischen Eigenschaften einer chemischen Nickelbeschichtung im wesentlichen vom Phosphorgehalt (% P) abhängen, muss die Phosphorkonzentration genau überprüft werden, um eine gleichmäßige Verteilung der Beschichtungsdicke zu gewährleisten und den Zielphosphorgehalt zu erreichen.

Hierfür sind herkömmliche XRF-Geräte schwierig: Alte Detektoren können Phosphorelemente nicht zuverlässig erkennen (insbesondere unter Luftwegbedingungen). Moderne SDD-Detektoren (wie die von Hitachi FT230 und FT160 konfigurierten Beschichtungsanalysatoren) können den Nickel-Phosphor-Gehalt synchron messen, auch bei komplexen Geometrien.

Der leistungsstarke FT160-Analyzer mit Polykapillaroptik (Fleckgröße < 30 µm) ermöglicht eine verlustfreie Präzisionsanalyse chemisch vernickelter Schichten auf Mikrokomponenten der Elektronikindustrie. Sein robustes, vielseitiges Design ist ausreichend, um anspruchsvollen industriellen Umgebungen gerecht zu werden.

Der FT230-Analyzer ist mit einem großflächigen, hochempfindlichen Siliziumdriftdetektor als Kern konzipiert und speziell für die Beschichtungsanalyse in der Elektronik und der Metallverarbeitung optimiert. Das Gerät wurde entwickelt, um anspruchsvolle industrielle Anwendungsszenarien mit hoher Erkennungsgeschwindigkeit und Genauigkeit zu bewältigen.

1. Hohe Prüfeffizienz

Bis zu 72 Prozent der herkömmlichen XRF-Inspektionen werden in der Vorbereitungsphase verbracht. Der FT230 löst diesen Schmerz durch folgende innovative Funktionen:

• Find My Part ™ (Meine Probe finden): Automatisches Laden des Prüfprogramms (einschließlich Kalibrierungsverfahren, Straightengrößen und Analyseparameter) mit Hilfe der maschinellen Vision-Technologie

• Autofokuss-Positioniersystem: Verkürzung der Vorbereitungszeit um 60 % und Messung ohne Abstandsbegrenzung

• Breitwinkelbeobachtungskamera: 20 % höhere Positioniereffizienz, besonders für große und komplexe Werkstücke

Diese Funktionen arbeiten zusammen und sparen jedem Bediener etwa 150 Arbeitsstunden pro Jahr.

Hochleistungs-SDD garantiert Präzision

Der Siliziumdrift-Detektor mit FT230 bietet drei Hauptvorteile:

• Hohe Auflösung: Präzise Trennung benachbarter Spitzen

• Schnelle Erfassung: Erfüllen Sie die Anforderungen der hohen Durchsatzprüfung

• Geräuschgeringe Eigenschaften: Zuverlässige Erkennung von niedrigen Energieelementen wie Phosphor

Dies macht sie zur idealen Wahl für die chemische Nickelprüfung, bei der die genaue Messung der Phosphorelemente für die Beschichtungseigenschaften von entscheidender Bedeutung ist.

Intelligente Softwareplattform: FT Connect

Die FT Connect-Schnittstelle, die speziell für einfache Bedienung entwickelt wurde, umfasst:

• Panorama-Musteransicht: Intuitive Positionierung

• Streamlined Control Interface: Konzentrierte Prüfziele und -ergebnisse

• Automatischer Datenexport: nahtlose Verbindung zu SCADA/MES/ERP/QMS-Systemen

Das Design verkürzt nicht nur den Schulungszyklus, sondern reduziert auch menschliche Fehler effektiver, so dass auch Nicht-Profi-Anwender schnell anfangen können.

Der FT230 ist ein vielseitiger XRF-Analyzer, der für eine Vielzahl von Anwendungsszenarien in der Elektronikherstellung und der Metalloberflächenbehandlung geeignet ist. Das Gerät ist bei der Präzisionsmessung von Gold-, Nickel- und Kupferbeschichtungen auf gedruckten Leiterplatten (PCB) ausgezeichnet und gewährleistet eine zuverlässige Leistung von elektronischen Komponenten.

Bei der Inspektion von Steckverbinderbeschichtungen kann es die Dicke und die Zusammensetzung von Zinn-, Silber- und Nickelbeschichtungen genau überprüfen, die für die Leitfähigkeit und die Korrosionsbeständigkeit von entscheidender Bedeutung sind. Für Kunststoffbeschichtungsanwendungen gewährleistet der FT230 eine gleichmäßige Ablagerung von Metallen auf nicht leitenden Substraten und unterstützt die Qualitätskontrolle von dekorativen und funktionellen Beschichtungen. Darüber hinaus eignet sich das Gerät auch für allgemeine Metalloberflächenbehandlungsaufgaben und ermöglicht die genaue Analyse komplexer mehrschichtiger Beschichtungen und Legierungskomponenten.

In allen Anwendungsszenarien liefern die Siliziumdriftdetektoren (SDDs) mit dem FT230 schnelle, präzise und reproduzierbare Prüfergebnisse, die Herstellern helfen, die strengen Qualitätsstandards und gesetzlichen Anforderungen kontinuierlich zu erfüllen.

Hitachi verfügt über eine tiefe Erfahrung im Bereich der Beschichtungs-XRF-Analyse, deren Technologie bis ins Ende der 1970er Jahre zurückgeht. FT230 ist das Ergebnis einer weltweiten Forschungs- und Entwicklungszusammenarbeit und basiert auf umfangreichem Kundenfeedback, um sowohl ein tiefes Verständnis der praktischen Herausforderungen der XRF-Anwender als auch innovative und praktische Lösungen zu bieten.

Präzision und Effizienz sind in der heutigen schnelllebigen Fertigungsumgebung kompromisslos wichtig. Ob Sie Steckverbinder für Smartphones beschichten oder korrosionsbeständige Beschichtungen für Luft- und Raumfahrtteile beschichten, die Fähigkeit, die Beschichtungsdicke und -zusammensetzung genau zu messen, ist von entscheidender Bedeutung.

Siliziumdriftdetektoren sind der Schlüssel zu dieser Genauigkeit. Das Hitachi FT230 bietet Ihnen eine Komplettlösung, die Spitzentechnologie, menschliche Software und Automatisierungsfunktionen vereint.

Wenn Sie die Qualitätskontrolle in der Elektronikherstellung oder der Metalloberflächenbehandlung (insbesondere bei chemischer Vernickelung) verbessern möchten, ist der FT230 nicht nur ein Prüfwerkzeug, sondern auch ein Wettbewerbsvorteil für Sie.