Röntgenstrahlungsspektrometer(XES) ist aufgrund seiner hohen Elementempfindlichkeit und der Fähigkeit zur Auflösung chemischer Zustände in der chemischen Analyse ein entscheidendes Werkzeug zur Untersuchung der Zusammensetzung, Struktur und Reaktionsmechanismen von Substanzen.

　　RöntgenstrahlungsspektrometerChemische Unterscheidung und Mikrozonenanalyse:

Chemische Auflösungsfähigkeit

Durch die Messung der chemischen Verschiebung der charakteristischen Röntgenstrahlung (d. h. der spektrale Spitzenverschiebung) unterscheidet XES verschiedene Oxidationszustände oder -positionierungsumgebungen desselben Elements. Zum Beispiel:

Eisen-Oxidationszustand: Der Unterschied in der Kα-Emissionsleitungsenergie von Fe²+ (wie FeO) und Fe³+ (wie Fe₂O₂) beträgt etwa 1-2 eV, XES kann deutlich unterschieden werden.

Schwefelpreiszustand: Der Unterschied in der S Kα-Linienenergie von S²- (Sulfid) und SO4²- (Sulfat) ist signifikant für die Nachverfolgung von Umweltschadstoffen.

Mikrozonenanalyse und Verlustlose Analyse

In Kombination mit dem Scan-Elektronenmikroskop (SEM) oder dem Transmission-Elektronenmikroskop (TEM) ermöglicht XES eine chemische Zustandskartierung von Mikron bis Nano-Bereichen, um Materialungleichheiten aufzudecken.

Geeignet für die schädigungsfreie Analyse von zerbrechlichen oder heterogenen Materialien wie Keramik, Biogewebe ohne komplexe Probenvorbereitung.