Hoch- und Tieftemperatur-Kälte-Hitze-Schlag-TestkammerEs ist ein Zuverlässigkeitsprüfgerät zur Simulation einer sich schnell ändernden Umgebung mit extremen Temperaturen, das hauptsächlich zur Beurteilung der Haltbarkeit, Stabilität und Ausfallmuster von elektronischen Komponenten, integrierten Schaltungen, Automobilteilen, Luft- und Raumfahrtmaterialien, militärischen Produkten und Verbraucherelektronik unter starken Temperaturwechselbedingungen verwendet wird. Seine Kernfunktion besteht darin, die Probe in einer sehr kurzen Zeit (in der Regel ein paar Sekunden bis zehn Sekunden) von einer hohen Temperaturzone (z. B. +150 ° C) in eine niedrigere Temperaturzone (z. B. -65 ° C oder weniger) zu wechseln, um potenzielle Mängel wie Mikrorisse, Schweißpunktmüdigkeit und Beschichtungsabzüge durch Aufblasen und Kühlung zu beschleunigen.
Hoch- und Tieftemperatur-Kälte-Hitze-Schlag-TestkammerVerwendung:
1. Vorbehandlung
Die Probe wird unter normalen Testatmosphärebedingungen (z. B. Raumtemperatur) platziert, bis die Probentemperatur stabil ist (in der Regel mehrere Stunden). Dieser Schritt sorgt dafür, dass der Anfangszustand der Probe konsistent ist, um zu vermeiden, dass die Testergebnisse durch Temperaturunterschiede beeinflusst werden.
2. Erste Prüfung
Probenprüfung: Vergleichen Sie die Proben mit den Standardanforderungen (z. B. Größe, Aussehen, Leistungsparameter), um sicherzustellen, dass die Testbedingungen erfüllt werden.
Legen Sie die Probe: Legen Sie die Probe gemäß den Standardanforderungen in den Probenhalter oder den Hängekorb in der Prüfkammer, um sicherzustellen, dass die Probe keinen direkten Kontakt mit der Kammerwand und dem Probenhalter hat, um ungleichmäßige Temperaturübertragung zu vermeiden.
III. Testdurchführung
Der Test umfasst in der Regel drei Phasen: Hochtemperaturstoß, Tieftemperaturstoß und Kreislaufstoß.
Hochtemperaturphase
Einstellen der Parameter: Erhöhen Sie die Temperatur in der Prüfkammer auf den vorgegebenen hohen Temperaturwert (z. B. +70 °C) und halten Sie es für eine Stunde oder bis die Probentemperatur stabil ist (je nachdem, was länger ist).
Beobachtungsaufzeichnung: Aufzeichnung der Temperaturveränderungskurven und des Zustands der Probe (z. B. ob sie sich verformt oder zerrissen hat).
Tieftemperaturphase
Schnelle Umwandlung: Nach Beendigung der Hochtemperatur-Phase wird die Probe innerhalb von 5 Minuten in einen Prüfraum übertragen, der auf den vorgegebenen Tieftemperaturwert (z. B. -55 °C) eingestellt ist.
Haltezeit: Halten Sie 1 Stunde oder bis die Probentemperatur stabil ist.
Beobachtungsaufzeichnung: Prüfen Sie die Probe auf Zerbrechung, Kontraktion oder elektrische Leistungsschwäche.
Kreislaufschock
Wiederholungsprozess: Wiederholen Sie die oben genannten Schritte in der Reihenfolge "Hoch → Tief → Hoch", um 3 komplette Zyklen abzuschließen (einige Normen erfordern möglicherweise weitere Zyklen).
Fehleranpassung: Abhängig von der Probengröße und dem Raum der Prüfkammer ist eine geringfügige Zeit (z. B. ± 5 Minuten) zulässig.
IV. Wiederherstellung
Nach Abschluss der Prüfung wird die Probe aus dem Prüfraum entnommen und unter normalen atmosphärischen Bedingungen (z. B. Raumtemperatur) gelagert, bis die Probentemperatur auf ihren ursprünglichen Zustand zurückkehrt. Dieser Schritt dient zur Beobachtung der Wiederherstellung der Leistung der Probe nach der Entfernung von der extremen Umgebung.
V. Nachprüfung
Leistungsbewertung: Prüfung des Aussehens der Probe (z. B. Risse, Verfärbungen), Größenveränderungen, Gewichtsverluste und elektrischer Eigenschaften (z. B. Widerstand, Isolierung) im Hinblick auf die Anforderungen der Kontrollnormen.
Das Ergebnis bestimmt: Die Qualitätsbestimmung der Probe wird anhand des Grades der Schäden (z. B. der Anzahl der Risse, der Leistungsabbrechungsrate) beurteilt.