FR-Scanner-AIO-Mic-XY200 ist einIntegriertes MikroskopAutomatisches Schichtdickenmappungssystem für die vollautomatische Messung der Schichtdicke auf einer und mehreren Schichten auf Musterplatten. Der elektrische X-Y-Trägerstich bietet eine passende Streckengröße von 200 mm x 200 mm und bietet eine Vielzahl von optischen Konfigurationen im Spektrumbereich von 200-1700 nm.