Das Unternehmen ist ein Unternehmen, das die Forschung, Entwicklung, Konstruktion, Herstellung, Anwendung und Vertrieb von Halbleiterdopingtechnologien der dritten Generation von Siliziumcarbid (SiC) in China integriert. Er ist ein Forscher für die Konstruktion und das Wachstum von Hochleistungshalbleiterchips, MOSFETs, IGBT-Chipdesign und -anwendungen, die Verpackung und Wärmeabkühlung von Halbleiterleistungsgeräten der dritten Generation.

Thetametrisis ist ein Hightech-Unternehmen, das unabhängig vom griechischen Nationalen Zentrum für wissenschaftliche Forschung und Entwicklung entwickelt wurde. Die Haupttechnologie besteht darin, die optische Reflexionsspektralyse zur präzisen Messung der Dicke von einzelnen und mehreren Schichten sowie des Brechungsverhältnisses zu verwenden, die von wenigen Nanometern bis zu Mikrometern reichen.

Der FR-Scanner (370nm-1020nm) ist ein kleines Desktop-Messgerät für die automatische Messung der Schichtdicke an verschiedenen Stellen auf dem Wafer. Der FR-Scanner ermöglicht eine schnelle und genaue Messung von Filmeigenschaften wie Dicke, Brechungsgrad usw. Die Wafer-Stufe mit Vakuumadsorption kann Produkte in verschiedenen Größen und Formen testen.

Der FR-Scanner scannt die gesamte Wafer durch drehende Wafer und linear bewegende Wafer mit hoher Geschwindigkeit und Genauigkeit (Radius und Winkel) und ermöglicht auf diese Weise die Aufzeichnung präziser Reflexionsdaten mit hoher Wiederholbarkeit, was den FR-Scanner zum idealen Werkzeug für die At-Line- und On-Line-Kartierung von Beschichtungen auf Wafern oder anderen Beschichtungen auf Substraten macht.

Der FR-Scanner bietet eine breite Palette von Anwendungskonfigurationen, von dünnen bis zu wenigen Nanometern und dicken bis zu mehreren Hundert Mikrometer, mit spezieller Software für den täglichen Gebrauch. Der FR-Scanner bietet eine hervorragende Leistung in Bezug auf Genauigkeit, Genauigkeit, Reproduzierbarkeit und langfristige Stabilität.