Haben Sie bei der Verwendung eines Scan-Elektroskops immer folgende Probleme:

1. Der Wechsel der Proben zwischen verschiedenen Geräten erfordert immer viel Zeit, um den Interessenbereich neu zu positionieren

2. Sie haben immer Probleme mit dem Erhalt großflächiger hochauflösender Bilder, müssen häufig die Bildparameter wechseln und den Fokus anpassen

3. Nachdem Sie das Bild erhalten haben, machen Sie sich Sorgen über die quantitative Analyse des Bildes

Auf diese Probleme und Anforderungen rüstet ZEISS das Scannelektroskop neu aus und bietet speziell intelligente Elektroskoplösungen an, die alle oben genannten Probleme lösen und Ihre täglichen Prüf- und Analysearbeiten reibungslos und effizient erledigen.

Affiliationspositionsanalyse

Das ZEISS Connect-Modul ermöglicht eine einfache Überbrücke zwischen dem optischen Mikroskop und dem Scannelektroskop, eine schnelle Neupositionierung der Proben zwischen verschiedenen Geräten und eine einheitliche Verwaltung der Daten und Informationen der zugehörigen Geräte.

✓ Assoziierte Positionierung: Automatische Assoziierungspositionierung von Proben zwischen verschiedenen Mikroskopgeräten durch Assoziierungsprobenständer, was den Betriebsaufwand erheblich reduziert

✓ Datenüberlagerung: Freie Überlagerung von Informationen von Handys, optischen Mikroskopen, Scan-Elektroskopen und entsprechenden Spektrumsinformationen

✓ Einheitliche Verwaltung: Verwalten Sie Daten von verschiedenen zugehörigen Geräten und überlagern Sie Bilder und Videos mit verschiedenen Informationen

Assoziationsmikroanalyse von PCB-Leiterplatten (Optik, Elektroskop, Energiespektruminformationen), links: Makrobilder; Rechts: Lokale Vergrößerung der Position des Interesses

Automatische Bildgebung

ZEISS SmartSEM Touch-Software für die Komplettierung von Parametereinstellungen, Bildgebung, automatisierte Puzzles, Bilddurchsuchen und intelligente und effiziente Scanelektroskopie-Bildgebung

✓ Assistentenführung, einfache Benutzeroberfläche und einfache Bedienung

✓ Automatischer Fokus basierend auf dem intelligenten Abgleich der Bildparameter der Probe

✓ Einfache Bedienung für Bildaufnahmen mit hohem Durchsatz

Einfache SmartSEM Touch-Bedienungsoberfläche

Quantitative Analyse

ZEISS ZEN Module ermöglichen den gesamten quantitativen Analyseprozess von der Elektroskopbilderfassung, der Bildverarbeitung, der Bildaufteilung, der automatischen Messung bis zur Berichtserzeugung

✓ Zugang zu Scan-Elektroskopbildern mit einem Klick, begleiteter Analyse-Workflow, der auch unerfahrenen Neulingen leicht zugänglich ist

✓ ZEN Intellesis-Module basieren auf maschinellem Lernen, um Bildverarbeitungsanforderungen zu erfüllen, die mit herkömmlichen Schwellenmethoden schwer erreicht werden können

✓ Umfangreiche Messfunktionen wie Partikelstatistische Analyse, Porosität, Gehaltsprozentsatz, Schichtdickenmessung, Korngrößenbewertung usw.

Quantitative Analyse-Schnittstelle - Binarielle Trennung

Metallschweißposition Porengröße- und Gehaltsanalyse

Vielfältige Messanforderungen erfüllen – erweiterte Messungen

Prozentsatz des Inhalts

Korngröße Bewertung

Partikelanalyse

Porositätsanalyse

Die Lösungen von ZEISSMIK für intelligente Scanelektroskopen erfüllen Ihre vielfältigen Anforderungen. Auf ZEISSMIK erfahren Sie mehr über die Lösungen von ZEISSMIK für intelligente Scanelektroskopen in den vier Bereichen Life Sciences, Materialwissenschaften, Metallindustrie und Elektronik.