Zur Erfüllung von Bereichen wie Materialforschung, Elektronikkomponentenprüfung, Keramiksinterung und Hochtemperatur-Eigenschaftsanalyse hat Beijing Huatest Test Instruments Co., Ltd. eine neue Generation von Temperaturkontrollplattformen eingeführt. Diese Plattform, die die Leistung der Temperaturregelung, die Flexibilität der Konfiguration und die Kompatibilität vereint, wurde speziell für Forschungseinrichtungen, Hochschullabore und Fertigungsunternehmen entwickelt, um den Anwendern zu helfen, elektrische Parametermessungen unter verschiedenen Temperaturen durchzuführen.

1. Technische Parameter

Temperaturbereich Abdeckung: Unterstützt einen kontinuierlich einstellbaren Temperaturbereich von Raumtemperatur (RT) bis 800 ° C, um die Anforderungen der Forschung der hohen Temperatureigenschaften vieler Materialien zu erfüllen.

Temperaturgenauigkeit: PID-Temperaturregelalgorithmus mit einer Temperaturgenauigkeit von bis zu ± 0,25 ° C, um eine hohe Wiederholbarkeit und Zuverlässigkeit der experimentellen Daten zu gewährleisten.

Wärmestrategie: Die Wärmeneigung kann im Bereich von 0,5 °C/min bis 20 °C/min benutzerdefiniert werden.

Hohe Auflösung: Temperaturauflösung von bis zu 0,1 °C.

Wärmereaktionsfähigkeit: Typische Heizgeschwindigkeit von bis zu 3 ° C / min, bis zu +20 ° C / min.

Sondenkonfiguration: Standard mit Rhenium-Wolfram (Re-W) Hochtemperatur-Sonde, hohe Temperaturbeständigkeit, geeignet für die stabile Kontaktprüfung unter hohen Temperaturen.

Gerätekompatibilität: nahtlos mit den gängigen Messgeräten der Industrie (SMU) wie Keysight / Solar etc. angepasst, plug-and-play und integriert bestehende Testsysteme.

Probenkonstruktion: Unterstützt runde oder quadratische Proben mit einem Durchmesser von 40 mm, um Vielseitigkeit und Praxis zu vereinbaren.

2. Anwendungsszenarien:

Hochtemperaturträger-Migrationsprüfung von Halbleitermaterialien

Widerstands- und Temperatureigenschaften-Analyse von neuen Funktionskeramiken/Oxiden

Wärmestabilitätsbewertung von phasenwechselnden Materialien

Forschung und Entwicklung von Hochtemperaturüberleitstoffen

Zuverlässigkeitsprüfung von Mikroelektronik